薄膜測厚儀，又稱為測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

征

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制

測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素成的系統(tǒng)誤差

支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇

系統(tǒng)自動樣，樣步距、測量點(diǎn)數(shù)和樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定

實時顯示測量結(jié)果的較大值、較小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶行判斷

配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的度和數(shù)據(jù)致性

系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用能，方便快捷地獲取測試結(jié)果

系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶行試驗操作和數(shù)據(jù)查看

標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外連接和數(shù)據(jù)傳輸

支持Lystem™實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)管理試驗結(jié)果和試驗報告  

測量原理

使用兩個激光傳感器安裝在被測物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個傳感器的激光能對在同點(diǎn)上。隨著被測物的移動傳感器就開始對其表面行采樣，分別測量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離，測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C(jī)，再通過我們在計算機(jī)上的測厚軟件行處理，得到目標(biāo)的厚度值。

非接觸式薄膜測厚儀的出現(xiàn)，大大提了紙張等片材厚度測量的度，尤其是在自動化線上，得到廣泛應(yīng)用。